介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 型號:STD-C  

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀STD-C，可直接顯示介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）.檢測固體材料。
STD-C介電常數(shù)測試儀
STD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測量控件（裝入STD-C的軟件模塊)、及電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 5594.4-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法　第4部分：介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測試方法、GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用STD-C數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。
STD-C介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 型號:STD-C  

主機(jī)：高頻Q表
功能名稱：STD-C
信號源范圍DDS數(shù)字合成信號100KHZ-160MHz
信號源頻率覆蓋比16000:1
信號源頻率精度 6位有效數(shù)3×10-5 ±1個(gè)字  
采樣精度12BIT
高精度的AD采樣，保證了Q值的穩(wěn)定性，以及低介質(zhì)損耗材料測試時(shí)候的穩(wěn)定性
Q測量范圍1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
Q分辨率4位有效數(shù),分辨率0.1
Q測量工作誤差<5%
電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量誤差<3%
調(diào)諧電容主電容17-240pF
(一體鍍銀成型,精度高)
電容自動(dòng)搜索是(帶步進(jìn)馬達(dá))
電容直接測量范圍1pF～25nF
調(diào)諧電容誤差
分辨率±1 pF或<1%
0.1pF
諧振點(diǎn)搜索自動(dòng)掃描
Q合格預(yù)置范圍 5-1000聲光提示
Q量程切換自動(dòng)/手動(dòng)
LCD顯示參數(shù)F，L，C，Q，Lt，Ct, tn, Σr
自身殘余電感和測試引線電感的
自動(dòng)扣除功能()有
大電容值直接測量顯示功能()測量值可達(dá)25nF
介質(zhì)損耗系數(shù)精度 萬分之一
介電常數(shù)精度 千分之一
材料測試厚度0.1mm-10mm
介電常數(shù)LCD直接顯示
介質(zhì)損耗系數(shù)LCD直接顯示
介電常數(shù)測試頻率范圍100KHz-100MHz
介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
樣品尺寸：固體：材料測量直徑 Φ38mm ；厚度可調(diào) <15mm ；
(極片可以定制)
選配液體杯，可做液體材料的檢測。
電感組:
電感No電感量準(zhǔn)確度%Q值≥分布電容約略值諧振頻率范圍 MHz適合介電常數(shù)測試頻率
10.1μH±0.05μH2005pF31~10350MHz
20.5μH±0.05μH2005pF14.8~46.615MHz
32.5μH±5%2005pF6.8~21.410MHz
410μH±5%2006pF3.4~10.555MHz
550μH±5%2006pF1.5~4.551.5MHz
6100μH±5%2006pF1.06~3.201MHz
71mH±5%1508pF0.34~1.020.5MHz
85mH±5%1308pF0.148~0.390.25MHz
910mH±5%908pF0.107~0.320.1MHz
1014nH±5%1005pF100MHz100MHz
配置：含STD-C測試主機(jī)1臺(tái)，樣品夾具1套，電感1組（9個(gè)），如需選配液體杯，費(fèi)用另計(jì)。